Sistem Operasi:Sistem operasi Window CE 6.0, aman dan andal
Menyaring:Dilengkapi dengan 8 filter yang dapat dialihkan secara otomatis berdasarkan elemen pengujian
Metode pengujian:Metode parameter dasar, koreksi metode koefisien empiris pendukung
Sistem Operasi:Sistem operasi Window CE 6.0, aman dan andal
Menyaring:Dilengkapi dengan 8 filter yang dapat dialihkan secara otomatis berdasarkan elemen pengujian
Metode pengujian:Metode parameter dasar, koreksi metode koefisien empiris pendukung
Matriks Analisis:Fe, Al, Cu, Zn, Ni, Mg, Pb dll.
Rentang Panjang Gelombang:160~580nm
Detektor:Rangkaian CMOS berkinerja tinggi
Matriks Analisis:Fe, Al, Cu, Zn, Ni, Mg, Pb dll.
Rentang Panjang Gelombang:160~580nm
Detektor:Rangkaian CMOS berkinerja tinggi
Bandwidth:0,5~10
Memperoleh:0~110
Rentang Deteksi:Rentang pemindaian (mm):0~1000
Rentang Deteksi:0 hingga 15m
rentang keuntungan:0 hingga 120dB
Margin Sensitivitas:>65dB
Rentang Deteksi:0 hingga 15m
rentang keuntungan:0 hingga 120dB
Margin Sensitivitas:>65dB
Rentang uji kekerasan:8~2900HV
Metode Uji Aplikasi Force:Otomatis (memuat, mempertahankan, membongkar)
Uji perbesaran mikroskop:400X (Pengukuran), 100X (observasi)
Rentang uji kekerasan:8~2900HV
Metode Uji Aplikasi Force:Otomatis (memuat, mempertahankan, membongkar)
Uji perbesaran mikroskop:400X (Pengukuran), 100X (observasi)
Skala Konversi:Superficial Rockwell, Brinell, Vickers
Waktu tinggal:2-60 tahun
Total beban Rockwell:60kgf(588N) 100kgf(980N) 150kgf(1471N)
Skala Konversi:Superficial Rockwell, Brinell, Vickers
Waktu tinggal:2-60 tahun
Total beban Rockwell:60kgf(588N) 100kgf(980N) 150kgf(1471N)
Tinggi spesimen maksimal:200mm
Jarak Indenter ke dinding luar:155mm
Catu daya:AC220+5%, 50 ~ 60Hz