Alat Ukur Ketebalan Lapisan Akurat Yang Disesuaikan TG-2100 5000 Mikron

Mengukur Ketebalan Lapisan Akurat Disesuaikan TG-2100 5000 Mikron menguji Min. ketebalan sampel 0.3mm

Deskripsi:

Dengan probe terpisah
Fungsi: TG-2100F (substrat besi) TG-2100N (substrat non ferrous) TG-2100FN (2 in 1, tipe F & NF)

Prinsip operasi: induksi magnetik / arus eddy (F / NF)

Rentang pengukuran: 0-5000um / 0-50mil

Resolusi; 0,1 / 1

Akurasi: ± 1-3% n atau ± 2.5um

Min. area pengukuran: 6mm

Min. ketebalan sampel: 0.3mm

Indikator baterai: indikator baterai rendah

Metrik / imperial: dapat dikonversi

Catu daya: Baterai 4x1.5V AAA (UM-4)

Matikan otomatis

Kondisi pengoperasian: 0- + 45 ℃ (32 ℉ -104 ℉), ≤90% RH

Dimensi: 126x65x27mm

berat: 81g (tidak termasuk baterai)
Aksesori opsional: rentang lain 0-200um hingga 15000um

Aplikasi:
1. TG-2100F dapat mengukur ketebalan lapisan pelapisan non-magnetik (aluminium, chrome, tembaga, ename1, karet, cat) pada substrat magnetik (baja, besi, paduan dan baja stainless magnetik)
2. TG-2100N dapat mengukur ketebalan lapisan pelapisan non-konduktif (ename1, karet, cat, lenyap, lapisan oksida anodik plastik) ditutupi pada substrat non-ferrous (aluminium, kuningan, seng, timah dan stainless steel non-magnetik)

Pengiriman Standar TG2100FN:
Unit utama (5000um) 1
Probe tipe F 1
Probe tipe N 1
Set basis kalibrasi F 1
N set basis kalibrasi 1
Foil kalibrasi set 1set (4 foil)
Tas 1
Instruksi manual 1

Aksesori opsional
Kabel dan perangkat lunak untuk RS-232C / USB

Rentang pengujian yang disesuaikan

Bluetooth

Probe sudut 90 derajat