Detail produk:
|
Nama produk: | Pengukur Ketebalan Lapisan | Fungsi: | TG-2100F (substrat besi) TG-2100NF (substrat non besi) TG-2100FN (2 in 1, tipe F & NF) |
---|---|---|---|
Rentang pengukuran: | besi (F): 0-5000um/0-60mil | Resolusi: | 0,1/1 |
Menyoroti: | Gauge Ketebalan Lapisan Lapisan Non-Magnetic,5000 mikron Pengukur Ketebalan Lapisan,Pengukur Ketebalan Lapisan |
TG-2100FN Ketebalan Lapisan Gauge 5000mikron
Aplikasi:
1. TG-2100F dapat mengukur ketebalan lapisan pelapis non-magnetik (aluminium, krom, tembaga, ename1, karet, cat) pada substrat magnetik (baja, besi, paduan dan baja tahan karat magnetik)
2. TG-2100NF dapat mengukur ketebalan lapisan pelapis tidak konduktif (ename1, karet, cat, vanish, lapisan plastik anodic oxide) yang ditutupi pada substrat non-ferrous (aluminium, kuningan, seng,timah dan baja tahan karat non-magnetik)
Deskripsi:
Fungsi | TG-2100F (substrat besi) TG-2100NF (substrat bukan besi) TG-2100FN (2 dalam 1, tipe F & NF) |
Prinsip Operasi | arus induksi magnetik/eddy (F/NF) |
Jangkauan pengukuran | besi (F): 0-5000um/0-60mil, nonferrous (NF): : 0-3000um/0-36mil |
Resolusi | 0.1/1 |
Keakuratan | ±1-3%n atau ±2,5um |
Min. area pengukuran | 6 mm |
Ketebalan sampel minimal | 0.3mm |
Indikator baterai | Indikator baterai rendah |
Metrik / imperial | Kabriolet |
Sumber daya listrik | 4x1.5V AAA ((UM-4) baterai |
Kondisi operasi | 0-+45°C ((32°F-104°F),≤90%RH |
Dimensi | 126x65x27mm |
berat badan | 81g ((tidak termasuk baterai) |
Aksesoris opsional | lain kisaran 0-2000um sampai 15000um |
Pengiriman standar TG2100FN:
Unit utama (5000um) 1
Sonde tipe F 1
Sonde tipe N 1
Set dasar kalibrasi F 1
N set dasar kalibrasi 1
Set foil kalibrasi 1 set (4 foil)
Kasus 1
Manual penggunaan 1
Aksesoris Opsional
Kabel dan perangkat lunak untuk RS-232C
Jangkauan pengujian yang disesuaikan
Kontak Person: Ms. Shifen Yuan
Tel: 8610 82921131,8613910983110
Faks: 86-10-82916893