Berbagai Probe Opsional Pengukur Ketebalan Lapisan Bentuk Logam Pencocokan Otomatis

Berbagai probe opsional probe pencocokan otomatis Metal Shape Coating Thickness Gauge

FITUR UTAMA

*Model ini mampu mengukur ketebalan lapisan pelapis non-magnetik yang tertutup pada substrat magnetik.Seperti: non-magnetik (aluminium, krom, tembaga, enamel, cat) yang dilapisi substrat magnetik (baja, paduan, dan baja tahan karat magnetik), juga dapat mengukur ketebalan lapisan pelapis non-konduktif yang dilapisi pada substrat konduktif.Seperti: (enamel, karet, cat, plastik) yang dilapisi substrat konduktif (aluminium, kuningan, seng, dan baja tahan karat nonmagnetik);

* Berbagai probe opsional, probe pencocokan otomatis;

* Probe ruby ​​​​tahan lama, lebih aus dan presisi;

* Desain cangkang logam penuh, kokoh, portabel, keandalan tinggi;

* Fungsi alarm saat melampaui rentang batas yang dapat diatur;

*Lima nilai statistik [MEAN, MAX, MIN, NO., S.DEV] akurasi pengukuran yang lebih tinggi;

* Penyimpanan besar, mudah untuk menghapus satu atau beberapa nilai tersimpan;

* Perangkat lunak PC opsional, memudahkan transmisi data, analisis, pencetakan, dll.

DATA TEKNIS

PENGIRIMAN STANDAR

ITEM OPSIONAL TERKAIT

1. Probe F1 - basa Fe
Rentang pengukuran: 0~1250μm
Probe F1 mengukur ketebalan lapisan pelapis non-magnetik yang tertutup pada substrat magnetik.Seperti: non-magnetik (aluminium, krom, tembaga, enamel, karet, cat) yang dilapisi substrat magnetik (baja, paduan, dan baja tahan karat magnetik)

2. Probe N1 - basa Al
Rentang pengukuran: 0~1250μm
Probe N1 dapat mengukur ketebalan lapisan pelapis non-konduktif yang tercakup pada substrat konduktif.Seperti: (enamel, karet, cat, vanish, lapisan anodik-oksida plastik) yang dilapisi substrat konduktif (aluminium, kuningan, seng, dan baja tahan karat nonmagnetik).

3.F3 Probe- basis Fe
Rentang pengukuran: 0~3000μm
Probe F3 mengukur ketebalan lapisan pelapis non-magnetik yang tertutup pada substrat magnetik.Seperti: non-magnetik (aluminium, krom, tembaga, enamel, karet, cat) yang dilapisi substrat magnetik (baja, paduan, dan baja tahan karat magnetik)

4.N3 Probe- basis Al
Rentang pengukuran: 0~3000μm
Probe N3 dapat mengukur ketebalan lapisan pelapis non-konduktif yang tercakup pada substrat konduktif.Seperti: (enamel, karet, cat, vanish, lapisan anodik-oksida plastik) yang dilapisi substrat konduktif (aluminium, kuningan, seng, dan baja tahan karat nonmagnetik).

Probe 5.F1/90° - Basis Fe
Rentang pengukuran: 0~1250μm
F1/90° digunakan untuk mengukur permukaan yang tidak dapat disentuh oleh probe biasa, alat ini dapat mengukur ketebalan lapisan pelapis non-magnetik yang tercakup pada substrat magnetik.Seperti: non-magnetik (aluminium, krom, tembaga, enamel, karet, cat) yang dilapisi substrat magnetik (baja, paduan, dan baja tahan karat magnetik)

6. Probe F10 - Basis Fe (Jangkauan besar)
Rentang pengukuran: 0~10000μm
Probe F10 mengukur ketebalan lapisan pelapis non-magnetik yang tertutup pada substrat magnetik.Seperti: non-magnetik (aluminium, krom, tembaga, enamel, karet, cat) yang dilapisi substrat magnetik (baja, paduan, dan baja tahan karat magnetik)

7. Potongan kalibrasi ketebalan lapisan standar
Nilai ketebalan standar antara 0~1250μm 5 buah/set, termasuk basis Fe atau Al
Potongan kalibrasi ketebalan lapisan standar (Kisaran besar)
Nilai ketebalan standar antara 0~10000μm 5 buah/set, termasuk basis Fe atau Al