TG-6200 Pengukur Ketebalan Lapisan Ultrasonik Non-Metallik di Berbagai Substrat Logam, Non-Metal

TG-6200 Pengukur Ketebalan Lapisan Ultrasonik Non-Logam Genggam  pada Berbagai Substrat Logam, Non-Logam

Pengukur ketebalan lapisan non-logam genggam dengan tampilan numerik dan fungsi pemindaian A/B. Prinsip pengukuran ketebalan ultrasonik pantulan pulsa berlaku untuk pengukuran bahan film ultra-tipis atau ketebalan lapisan yang dapat membuat gelombang ultrasonik merambat di dalamnya dengan kecepatan konstan dan dapat dipantulkan dari belakangnya. Resolusi pengukuran adalah 0,001mm, rentang pengukuran setipis 0,02mm, dan ketebalan lapisan serta substrat dapat diukur secara bersamaan.

Produk ini dapat digunakan di bidang perminyakan, industri kimia, metalurgi, pembuatan kapal, kedirgantaraan, energi, dan bidang lainnya.

Fungsi utama

● Rentang pengukuran lebar, ketebalan pengukuran minimum, lapisan 20um, ketebalan pengukuran maksimum 1800mm;

● Pengukuran ketebalan presisi tinggi, resolusi pengukuran tertinggi hingga 0,001mm; Resolusi berulang hingga ±0,002mm;

● Mode A-scan, mode B-scan, mode tampilan numerik;

● Dengan fungsi pengukuran melalui lapisan dan gema ke gema untuk mengukur bahan dengan cat dan lapisan di permukaan;

● Lapisan pelapis dan cat pada beberapa bahan komposit dapat dideteksi sesuai dengan kecepatan suara material yang berbeda, dan ketebalan setiap lapisan dari lebih dari 10 material berlapis dapat diukur secara bersamaan, dan nilai ketebalan setiap lapisan dapat dialihkan di bawah gema yang sama;

● Berbagai pengukuran: THIN, MB-E, E-E, mode Otomatis untuk memenuhi pengukuran benda kerja tebal konvensional; mode THIN E-E untuk pengukuran lapisan tipis;

● Mode numerik meliputi mode nilai ketebalan konvensional, mode perbedaan/tingkat pengurangan, dan mode nilai maksimum;

● Mode Gain: gain otomatis/gain manual;

● Mode mati manual dan mati otomatis dapat diatur, dengan fungsi hemat energi;

● Dapat menggunakan berbagai spesifikasi probe yang berbeda, probe kembar dan probe kristal tunggal, hingga mendukung probe frekuensi tinggi 20Mhz;

● Mendukung penyimpanan berkapasitas besar, dapat secara bersamaan menyimpan 100.000 nilai ketebalan, 500 grup bentuk gelombang A scan, dan 500 grup bentuk gelombang B scan;

● Memiliki berbagai metode kalibrasi, mendukung kalibrasi satu titik, kalibrasi multi-titik, dan mode kalibrasi manual, dapat secara bersamaan mengkalibrasi kecepatan suara dan posisi nol probe; Mendukung kalibrasi jalur V.

● Konversi Imperial; Milimeter dan inci dapat dialihkan;

● Tampilan Bahasa Mandarin dan Inggris;

Parameter spesifikasi