logo
Quote request suatu |
Rumah Produknon-merusak pengujian peralatan

HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar X Stabilitas Tinggi

Semua produk

non-merusak pengujian peralatan

(1224)

Ultrasonik detektor Cacat

(124)

X-Ray Cacat detektor

(152)

Crawler Pipeline X-ray

(20)

Peralatan Pengujian Partikel Magnetik

(186)

Peralatan Pengujian Arus Eddy

(33)

Penampil Film Radiografi

(18)

Blok Kalibrasi Ultrasonik

(50)

Pemeriksaan Ultrasonik

(22)

Perangkat Pemantau Radiasi

(24)

Layar Intensifikasi Timbal

(7)

Penetrameter Jenis Kawat

(6)

mengukur ketebalan lapisan

(109)

kekerasan pengujian mesin

(160)

Tester Kekasaran Permukaan Portabel

(41)

Peralatan Metalografi

(31)

Pengukur Getaran Portabel

(65)
Produk terbaik
Kalibrator getaran digital

Kalibrator getaran digital

Sertifikasi
Cina HUATEC GROUP CORPORATION Sertifikasi
Cina HUATEC GROUP CORPORATION Sertifikasi
Ulasan pelanggan
berbagai macam produk NDT, kita bisa mendapatkan semua dalam kelompok huatec. Kami lebih suka membeli dari mereka. Rudolf Shteinman Rusia

—— Rudolf Shteinman

Saya suka layanannya, responsnya sangat cepat, kerja profesional. Aret Turki

—— Aret Kaya

huatec hardness tester, kualitas sangat baik, kami sangat puas dengan portable hardness tester RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Afrika

—— Kumaren Govender

I 'm Online Chat Now

HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar X Stabilitas Tinggi

HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar X Stabilitas Tinggi
HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar X Stabilitas Tinggi HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar X Stabilitas Tinggi

Gambar besar :  HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar X Stabilitas Tinggi

Detail produk:
Tempat asal: Cina
Nama merek: HUATEC
Sertifikasi: CE
Nomor model: HXRF-450S
Syarat-syarat pembayaran & pengiriman:
Kuantitas min Order: 1 buah
Harga: USD14145/set - USD15990/set
Kemasan rincian: Kotak kemasan karton
Waktu pengiriman: 10-15 hari kerja setelah menerima pembayaran Anda
Syarat-syarat pembayaran: T/T, Paypal
Menyediakan kemampuan: 5set/Bulan
Kontak

HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar X Stabilitas Tinggi

Deskripsi
Rentang Elemen Pengukuran ：: Aluminium (Al) - Uranium (U) Detektor: SDD
Waktu ujian: 10-40-an Arus tabung: 0-1MA (dikendalikan program)
Tekanan Tinggi: 0-50kV (dikendalikan program) Pembesaran: Optik: 40-60 ×
Tegangan Masukan:: AC220V±10% 50/60Hz
Menyoroti:

Pengukur ketebalan lapisan fluoresensi sinar-X

,

Spektrometer XRF stabilitas tinggi

,

Analisis ketebalan lapisan tanpa merusak

HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar-X Stabilitas Tinggi
Spesifikasi Produk
Atribut Nilai
Rentang elemen pengukuran Aluminium (Al) - uranium (U)
Detektor SDD
Waktu ujian 10-40an
Arus tabung 0-1mA (dikendalikan oleh program)
Tekanan tinggi 0-50kV (dikendalikan oleh program)
Pembesaran Optik: 40-60×
Tegangan masukan AC220V±10% 50/60HZ
Ikhtisar Produk

HXRF-450S XRF X-ray Fluorescence Coating Thickness Tester adalah instrumen berkinerja tinggi yang dirancang untuk pengukuran ketebalan lapisan dan analisis material yang tepat di berbagai industri.

Kondisi Kerja
  • Suhu pengoperasian: 15-30℃
  • Kelembaban relatif: 40%~50%
  • Catu daya: AC: 220V ± 5V
Kinerja Teknis
  • Stabilitas jangka panjang yang sangat baik dengan persyaratan kalibrasi minimal
  • Tidak diperlukan persiapan sampel untuk sistem pelapisan, sampel padat atau cair
  • Kinerja komprehensif termasuk analisis pelapisan, analisis kualitatif/kuantitatif, analisis rendaman, dan fungsi statistik
Aplikasi

Ideal untuk komponen elektronik, semikonduktor, PCB, FPC, braket LED, suku cadang mobil, pelapisan fungsional, suku cadang dekoratif, konektor, terminal, perlengkapan saniter, perhiasan, dan industri lainnya untuk pengukuran ketebalan lapisan permukaan dan analisis material.

Fitur Keamanan
  • Antarmuka pengguna yang sederhana dengan otorisasi operator terbatas
  • Kemampuan pemeliharaan supervisor
  • Catatan penggunaan operator otomatis
  • Penguncian otomatis untuk pencegahan pengoperasian yang tidak sah
  • Contoh sensor pintu ruang
  • Lampu peringatan sinar-X
  • Tombol keamanan panel depan
Fitur Utama
  • Mengukur hingga 5 lapisan (4 lapisan + substrat) secara bersamaan
  • Menganalisis 15 elemen dengan koreksi garis spektral otomatis
  • Akurasi pengukuran tinggi (hingga μin) dengan stabilitas yang sangat baik
  • Pengukuran non-destruktif yang cepat (secepat 10 detik)
  • Menganalisis padatan dan solusi dengan kemampuan kualitatif, semi kuantitatif dan kuantitatif
  • Identifikasi material dan deteksi klasifikasi
  • Statistik data yang komprehensif (rata-rata, deviasi standar, dll.)
  • Berbagai opsi keluaran (cetak, PDF, Excel) dengan pelaporan komprehensif
  • Pratinjau posisi pengukuran dengan pembesaran optik 30×
  • Layanan global dan dukungan teknis
Parameter Teknis
Parameter Spesifikasi
Rentang elemen pengukuran Aluminium (Al) - uranium (U)
Detektor SDD
Jenis kolimator Memperbaiki lubang tunggal (0,15mm, 0,2mm, 0,5mm)
Sistem jalur optik Iradiasi vertikal
Pembesaran Optik: 40-60×
Mode tampilan Spektrum unsur, pola label, unsur dan nilai pengukuran
Kamera Kamera industri definisi tinggi dengan pembesaran lokal
Aplikasi Lapisan tunggal/ganda, lapisan paduan, larutan pelapisan listrik
Tegangan masukan AC220V±10% 50/60HZ
Komunikasi Transmisi USB berkecepatan tinggi
Ukuran 555*573*573mm (rongga 410*478*245mm)
Sumber sinar-X Tabung cahaya pemfokusan mikro presisi tinggi (Target W)
Fitur perangkat lunak Algoritma FP, diagnosis/koreksi kesalahan otomatis, kompensasi otomatis
Konfigurasi Standar
Detektor Semikonduktor SDD
  • Detektor semikonduktor SDD berpendingin listrik
  • Resolusi: 129 ± 5 EV
  • Modul rangkaian amplifikasi untuk deteksi sinar-X karakteristik sampel
Perangkat Eksitasi Sinar-X
  • Output arus filamen maksimum: 1mA
  • Komponen semi-rugi, 50W, pendingin udara
Pemancar Tekanan Tinggi
  • Keluaran tegangan maksimum: 50kV
  • Penyesuaian minimum 5kV yang dapat dikontrol
  • Perlindungan kelebihan tegangan mandiri
HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar X Stabilitas Tinggi 0 HXRF-450S Spektrometer Ketebalan Lapisan Fluoresensi Sinar X Stabilitas Tinggi 1

Label:

mesin uji non destruktif,

peralatan pengujian ndt,

alat inspeksi ndt

Rincian kontak
HUATEC GROUP CORPORATION

Kontak Person: Ms. Shifen Yuan

Tel: 8610 82921131,8618610328618

Faks: 86-10-82916893

Mengirimkan permintaan Anda secara langsung kepada kami (0 / 3000)

Tentang

X-Ray Cacat detektor

XXQ-2005 Portable X-Ray Flaw Detector untuk inspeksi lasan dengan anti-jamming

Industrial X - Ray Film Viewer Computer Sistem Radiografi Waktu Nyata

Mini Glass X Ray Generator Tube untuk NDT Flaw Detector Accessories

Blok Kalibrasi Ultrasonik

Detektor Cacat Ultrasonik / Blok Kalibrasi UT IIW V1 (A2) Tipe DIN 54-120 BS2704

IIW V-2 A4 75mm x 43mm x 12.5mm Ultrasonic Calibration Block / blok uji ultrasonik

10 - Langkah Wedge blok kalibrasi untuk kalibrasi ketebalan dan linearitas

Tinggalkan pesan

Kebijakan pribadi | Cina Bagus kualitas non-merusak pengujian peralatan pemasok. © 2016 - 2026 HUATEC GROUP CORPORATION. All Rights Reserved.