Rumah Produk non-merusak pengujian peralatan

RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester

Name: RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester
Brand: HUATEC GROUP CORPORATION
SKU: RHL-40B
Price: 305.00 USD
Availability: InStock

Semua produk

non-merusak pengujian peralatan
(696)

Ultrasonik detektor Cacat
(104)

X-Ray Cacat detektor
(119)

Crawler Pipeline X-ray
(13)

Peralatan Pengujian Partikel Magnetik
(162)

Peralatan Pengujian Arus Eddy
(32)

Penampil Film Radiografi
(18)

Blok Kalibrasi Ultrasonik
(50)

Pemeriksaan Ultrasonik
(22)

Perangkat Pemantau Radiasi
(23)

Layar Intensifikasi Timbal
(7)

Penetrameter Jenis Kawat
(6)

mengukur ketebalan lapisan
(106)

kekerasan pengujian mesin
(133)

Tester Kekasaran Permukaan Portabel
(39)

Peralatan Metalografi
(31)

Pengukur Getaran Portabel
(58)

Produk terbaik

Digital Vibration Calibrator Calibrate Vibration Meter Getaran Analyzer Vibration Tester ISO10816 HG-5010

Sertifikasi

Ulasan pelanggan

berbagai macam produk NDT, kita bisa mendapatkan semua dalam kelompok huatec. Kami lebih suka membeli dari mereka. Rudolf Shteinman Rusia

—— Rudolf Shteinman

Saya suka layanannya, responsnya sangat cepat, kerja profesional. Aret Turki

—— Aret Kaya

huatec hardness tester, kualitas sangat baik, kami sangat puas dengan portable hardness tester RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Afrika

—— Kumaren Govender

I 'm Online Chat Now

RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester

Gambar besar : RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester

Detail produk:

Tempat asal:	Cina
Nama merek:	HUATEC
Sertifikasi:	CE
Nomor model:	RHL-40B

Syarat-syarat pembayaran & pengiriman:

Kuantitas min Order:	1 PC
Harga:	USD285/set - USD325/set
Kemasan rincian:	Kotak kemasan karton
Waktu pengiriman:	1-3 hari kerja setelah menerima pembayaran Anda
Syarat-syarat pembayaran:	T/T, PayPal
Menyediakan kemampuan:	10 set/bulan

Kontak

RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester

Deskripsi

Rentang pengukuran:

(170-960)HLD,(17-68.5)HRC,(19-651)HB,(80-976)HV,(30-100)HS,(59-85)HRA,(13-100)HRB

Keakuratan:

±6HLD

Tampilan:

LCD segmen

Memori data:

maksimal 100 kelompok ((relatif terhadap waktu benturan 32 ̊1)

Menyoroti:

LCD Leeb Hardness Tester

Tester Kekerasan Leeb Memori Kapasitas Besar

RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester

Fitur:

Kasus plastik kompak, cocok untuk digunakan dalam kondisi kerja yang buruk.
Jangkauan pengukuran yang luas. Ini dapat mengukur kekerasan semua bahan logam. Tampilan langsung skala kekerasan HRB, HRC, HV, HB, HS, HL
Layar besar (segmen LCD), menunjukkan semua fungsi dan parameter.
Memori kapasitas besarbisa menyimpan informasi 100 kelompok.
Datapro Perangkat lunak untuk terhubung dengan PC melalui port RS232.
Fungsi kalibrasi perangkat lunak.

Spesifikasi teknis:

Jangkauan pengukuran	(170-960) HLD, ((17-68.5) HRC, ((19-651) HB, ((80-976) HV, ((30-100) HS, ((59-85) HRA, ((13-100) HRB
Arah pengukuran	360° ((↓ ↓→←↑)
Keakuratan	±6HLD
Skala kekerasan	HL,HB,HRB,HRC,HRA,HV,HS
Tampilan	segmen LCD
Memori data	maksimal 100 kelompok(relatif terhadap waktu benturan 32️1)
Tegangan kerja	3V ((2 baterai alkali ukuran AA)
Periode kerja terus menerus	sekitar 100 jam ((dengan lampu latar mati)
Antarmuka komunikasi	RS232

Aplikasi Utama

Kerongkongan mati cetakan

Baja dan bagian-bagian lainnya
Analisis kegagalan wadah tekanan, generator uap dan peralatan lainnya
Bagian kerja berat
Mesin yang dipasang dan bagian yang dipasang secara permanen.
Permukaan pengujian dari ruang berongga kecil
Identifikasi material di gudang bahan logam
Pengujian cepat dalam jarak yang besar dan area multi-pengukuran untuk benda kerja skala besar

Konfigurasi:

	Tidak, tidak.	Artikel	Jumlah	Pengamatan
Konfigurasi standar	1	Unit utama	1
	2	Perangkat benturan tipe D	1	Dengan kabel
	3	Blok uji standar	1
	4	Sikat pembersih (I)	1
	5	Cincin pendukung kecil	1
	6	Baterai alkali	2	Ukuran AA
	7	Manual	1
	8	Kasus paket instrumen	1
Konfigurasi Opsional	9	Sikat pembersih (II)	1	Untuk digunakan dengan perangkat benturan tipe G
	10	Jenis lain dari perangkat benturan dan cincin pendukung		Lihat Tabel 3 dan Tabel 4 di lampiran.
	11	Perangkat lunak DataPro	1
	12	Kabel komunikasi	1
	13	Printer Mikro	1
	14	Kabel cetak	1

RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester 0

Label:

Kontak Person: Ms. Shifen Yuan

Tel: 8610 82921131,8613910983110

Faks: 86-10-82916893

Produk lainnya

HMP-3000 Detektor Partikel Lapangan Kebocoran Magnetik Fluoresen

Arus magnetisasi sirkumferensial (a): 3000

MMF magnetisasi longitudinal (AT): 12000、16000、18000

Diameter bagian dalam kumparan opsional (mm): 350、400、500

Spasi elektroda maksimum opsional (mm): 500、1000、1500、2000、3000

FJ6101-N50 Kelas Lingkungan x. γ LCD Display dengan Backlight Radiation Dose Rate Meter

Rentang pengukuran: 10ngy/h ~ 100mgy/h

Ambang energi: 35keV

Kepekaan: 1 Gy/H≥1250cps

Respon energi: 40kev ~ 3mev≤ ± 30% (relatif terhadap 137cs)

SRT-680G Penguji kasar dan kontur

Product name: Roughness and Contour Tester

Model: SRT-680G

Akurasi pengukuran: X Axis 200mm

Residual value noise: ≤0.005μm

HFD-UT8C Sistem Ultrasonik Multi-Channel

PRF: 25～10KHz

Voltage: Negative square wave, -25～-300V, 25V Stepping

Pulse width: 30～1000ns，5ns Stepping

Trigger: Internal/ external/ Encoder

HUATEC FD-GT-1010 Digital Ultrasonic Defect Detector

Attenuator: Every 12dB ± 1dB

Kebisingan Masukan Setara: <80 × 10-9 V/√Hz

Test Modes: Single/Dual

Damping: 400、80Ω

RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester

RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester

RHL-40B Segment LCD Backlight Display Kapasitas Besar Memori Leeb Hardness Tester

LCD Leeb Hardness Tester

Tester Kekerasan Leeb Memori Kapasitas Besar

Spesifikasi teknis:

Konfigurasi:

mesin uji non destruktif,

peralatan pengujian ndt,