|
Detail produk:
|
| Prinsip operasi: | Induksi magnetik / arus eddy (F / NF) | Mengukur jangkauan: | 0-5000um / 0-50mil |
|---|---|---|---|
| Resolusi;: | 0,1 / 1 | Akurasi:: | ± 1-3% n atau ± 2.5um |
| Min. area pengukuran:: | 6 mm | Min. ketebalan sampel:: | 0.3mm |
| Indikator baterai:: | Indikator baterai rendah | Metrik / imperial:: | Convertible |
| Cahaya Tinggi: | pengukuran ketebalan lapisan,meteran ketebalan lapisan |
||
Mengukur Ketebalan Lapisan Akurat Disesuaikan TG-2100 5000 Mikron menguji Min. ketebalan sampel 0.3mm
Deskripsi:
Dengan probe terpisah
Fungsi: TG-2100F (substrat besi) TG-2100N (substrat non ferrous) TG-2100FN (2 in 1, tipe F & NF)
Prinsip operasi: induksi magnetik / arus eddy (F / NF)
Rentang pengukuran: 0-5000um / 0-50mil
Resolusi; 0,1 / 1
Akurasi: ± 1-3% n atau ± 2.5um
Min. area pengukuran: 6mm
Min. ketebalan sampel: 0.3mm
Indikator baterai: indikator baterai rendah
Metrik / imperial: dapat dikonversi
Catu daya: Baterai 4x1.5V AAA (UM-4)
Matikan otomatis
Kondisi pengoperasian: 0- + 45 ℃ (32 ℉ -104 ℉), ≤90% RH
Dimensi: 126x65x27mm
berat: 81g (tidak termasuk baterai)
Aksesori opsional: rentang lain 0-200um hingga 15000um
Aplikasi:
1. TG-2100F dapat mengukur ketebalan lapisan pelapisan non-magnetik (aluminium, chrome, tembaga, ename1, karet, cat) pada substrat magnetik (baja, besi, paduan dan baja stainless magnetik)
2. TG-2100N dapat mengukur ketebalan lapisan pelapisan non-konduktif (ename1, karet, cat, lenyap, lapisan oksida anodik plastik) ditutupi pada substrat non-ferrous (aluminium, kuningan, seng, timah dan stainless steel non-magnetik)
Pengiriman Standar TG2100FN:
Unit utama (5000um) 1
Probe tipe F 1
Probe tipe N 1
Set basis kalibrasi F 1
N set basis kalibrasi 1
Foil kalibrasi set 1set (4 foil)
Tas 1
Instruksi manual 1
Aksesori opsional
Kabel dan perangkat lunak untuk RS-232C / USB
Rentang pengujian yang disesuaikan
Bluetooth
Probe sudut 90 derajat
Kontak Person: Ms. Shifen Yuan
Tel: 8610 82921131,8613910983110
Faks: 86-10-82916893
