Electronic Film Thickness GaugeTG-2100 2000 Micron Coating Dengan Probe Terpisah

Electronic Film Thickness GaugeTG-2100 2000 Micron Coating Dengan Pengukuran Probe Terpisah Min. ketebalan sampel 0.3mm

Deskripsi:

Dengan probe terpisah
Fungsi: TG-2100F (ferro substrat) TG-2100NF (substrat non ferro) TG-2100FN (2 in 1, tipe F & NF)

Prinsip operasi: induksi magnetik / arus eddy (F / NF)

Rentang pengukuran: besi (P): 0-2000um, bukan besi (NF):: 0-2000um

Resolusi; 0,1 / 1um

Akurasi: ± 1-3% n atau ± 2.5um

Min. area pengukuran: 6mm

Min. ketebalan sampel: 0.3mm

Indikator baterai: indikator baterai rendah

Metrik / imperial: dapat dikonversi

Catu daya: Baterai 4x1.5V AAA (UM-4)

Matikan otomatis

Kondisi pengoperasian: 0- + 45 ℃ (32 ℉ -104 ℉), ≤90% RH

Dimensi: 126x65x27mm

berat: 81g (tidak termasuk baterai)
Aksesori opsional: rentang lain 0-2000um hingga 18000um

Aplikasi:
1. Alat ukur ketebalan lapisan TG-2100F dapat mengukur ketebalan lapisan non-magnetik (aluminium, chrome, tembaga, ename1, karet, cat) pada substrat magnetik (baja, besi, paduan dan baja stainless magnetik)
2. Alat ukur ketebalan lapisan TG-2100NF dapat mengukur ketebalan lapisan pelapisan non-konduktif (ename1, karet, cat, lenyap, lapisan oksida anodik plastik) tercakup pada substrat non-ferrous (aluminium, kuningan, seng, timah dan non-magnetik besi tahan karat)

Pengiriman standar untuk mengukur ketebalan lapisan TG2100FN:
Unit utama (2000um) 1
Probe tipe F 1
Probe tipe N 1
Set basis kalibrasi F 1
N set basis kalibrasi 1
Foil kalibrasi set 1set (4 foil)
Tas 1
Instruksi manual 1

Aksesori opsional untuk pengukur ketebalan lapisan TG2100FN:
Kabel dan perangkat lunak untuk RS-232C
Rentang pengujian yang disesuaikan